논문 Review/Yield & TEST4 [논문 Review] 수율(Yield) 예측 모델 오늘은 수율 예측 모델에 대해 정리해보겠습니다. 수율을 정확하게 예측하는 것은 매우 중요한 작업입니다. 특히 고객사를 유치해야 하는 Foundry 기업에서는 수율 데이터를 통해 공정의 성숙도를 어필하는 것이 핵심 전략 중 하나입니다. 고객사 입장에서도 예상 수율을 기반으로 Wafer 주문량을 결정하기 때문에, Foundry 기업은 신뢰할 수 있는 수율 정보를 제공하는 것이 필수입니다. 이 때문에 TSMC와 같은 주요 Foundry 기업들은 세미나 등 공식 발표 자리에서 꾸준히 수율과 관련된 D₀ 데이터를 공개하고 있습니다. 수율을 예측하는 방법에는 다양한 모델이 존재합니다. 이번 포스팅에서는 여러 수율 모델과 각각의 모델이 적절하게 적용되는 사례에 대해 설명하겠습니다. 참고한 논문은 아래와 같습니다.Y.. 2025. 4. 28. [논문 Review] IDDQ Testing 금일은 IDDQ Testing에 대해 포스팅하겠습니다. 반도체는 수율이라는 양품과 불량을 나누는 기준이 있습니다. 그 기준이 되는 테스트 중 하나가 IDDQ Testing 입니다. 참고한 논문은 아래와 같습니다.IDDQ Test: Will It Survive the DSM Challenge? 수율은 Wafer 내 전체 칩 수 대비 양품의 비율입니다. 정상 칩으로 판정하기 위해서는 다양한 테스트를 합니다. 이전에 포스팅한 Scan 테스트 또한 정상 칩으로 판정하기 위한 테스트 중 하나 입니다. https://tomisemiconductor.tistory.com/13 [논문 Review] Design For Test (DFT) Scan Fault 유형이번 포스팅은 Logic 영역을 검사하기 위한 DFT Sc.. 2025. 4. 1. [논문 Review] Design For Test (DFT) Scan Fault 유형 이번 포스팅은 Logic 영역을 검사하기 위한 DFT Scan Fault 유형에 대해 정리해보겠습니다. 제가 참고한 자료는 공식 논문은 아니고 VLSI에서 작성된 자료 입니다. 해당 자료 이외에도 다양한 자료들을 참고해서 정리하였습니다.https://vlsitutorials.com/dft-scan-and-atpg/ DFT, Scan and ATPGThe chip manufacturing process is prone to defects and the defects are commonly referred as faults. A fault is testable if there exists a well-specified procedure to expose it in the actual silicon…vlsit.. 2025. 1. 31. [논문 Review] PBTI/NBTI에 따른 SRAM Vmin(최소 동작 전압) 변화 이번 포스팅에서는 PBTI/NBTI에 따른 SRAM Vmin(최소 동작 전압) 변화에 대한 논문에 대해 Review 하겠습니다.Impacts of NBTI/PBTI on SRAM Vmin and Design Techniques for SRAM Vmin Improvement 해당 문헌에서는 SRAM의 PBTI/NBTI에 따른 Vmin 변화에 대해 얘기하고 있습니다. 논문 Review에 앞서 배경이 되는 몇가지를 설명하겠습니다.1. Bias Temperature Instability(BTI)BTI는 Bias Temperature Instability로 Temperature, Bias Stress를 가하여 Vth 변화에 관련된 신뢰성 항목입니다. NMOS에 해당되는 Positive BTI(PBTI), PMOS.. 2024. 9. 30. 이전 1 다음
